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2022
I-fuse®: 可靠度高且可被全面測試的OTP
I-fuse®:
Most Reliable and Fully Testable OTP
上峰科技的獨家專利技術 I-fuse® 是一項革命性的新技術,讓燒錄達到更高的可靠性和預測性。這項技術利用熱輔助電遷移,在低於熔斷點的條件下進行燒錄,確保高度可靠度。只要一開始的熔絲電阻足夠低(例如小於400歐姆),就能產生足夠的熱能進行燒錄,因此所有儲存單元都能被成功燒錄和測試。更重要的是,燒錄電壓範圍可進行測試和校準,從而準確預測燒錄產量。透過I-fuse® 技術,在讀取期間以低電壓燒錄模擬正式燒錄的狀態,這種同步低電壓讀寫(CLVWR)技術能夠生成複雜的SRAM-like測試模式,實現對I-fuse® OTP區塊的全面測試,達到100%的錯誤涵蓋率。